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Oji Keisoku光學薄膜相位差橢圓偏振測量儀 KOBRA-HB 系列是日本 Oji Keisoku（王子計測）推出的相位差/橢圓偏振測量儀，主打“寬量程、高精度、易維護”三大特點，面向液晶?OLED 面板、光學薄膜、偏光板、波片等的光學性能評價

日本ihara鋁蒸鍍薄膜遮光性測量光透過率計 便攜式設計，內(nèi)置測量工作臺 無需外接設備，現(xiàn)場使用方便 支持多種材料測量

日本ihara半導體光掩膜透光率測量儀 支持彩色薄膜測量（不僅限于黑白） 厚度適應性強：標準支持1mm以內(nèi)厚度，特殊需求可定制 高精度測量：微小區(qū)域也能精確測量

日本magna磁場強度分析三軸磁感應測量儀 三軸磁感應測量儀TM-4300是一款高精度、高分辨率的設備，能夠同時測量三個軸向（X、Y、Z）的磁通密度，并進行三維矢量計算，顯示和分析磁矢量的大小和方向。這款設備特別適合用作磁鐵分析儀，可以清晰地顯示磁通量的流動，無論是在視覺上還是在數(shù)據(jù)上。

日本magna磁通密度磁感應測量儀 特斯拉計 TM-4702是一款高精度的測量設備，能夠測量磁鐵等的直流磁通密度（DC）和變壓器等的交流磁通密度（AC），測量范圍從0.01mT到4.0T

日本k-axis非破壞性食品激光體積計測量儀 該設備可以快速簡單地測量非定形立體（如面包、糕點等）的體積、尺寸（長、寬、高）以及重量和比重（需選配）。 特別為面包食品行業(yè)設計，能夠立即在記錄表上顯示“縱橫比”和“彈性”的計算結(jié)果。 該設備適用于研究開發(fā)和品質(zhì)管理，有助于開辟新的研究和管理領(lǐng)域。 與之前廣泛使用的“菜種置換法”相比，該設備可以提供高精度和穩(wěn)定性的數(shù)據(jù)，不受個人差異影響。

日本HORUS刀具觀察臺切削狀況測量裝置 TOD-01 刀具觀察是切削過程中最重要的過程之一。用于切削的切削刃可以作為考慮切削條件的有用線索。 確定工件材料、切削條件、夾具等切削環(huán)境與切削刃的協(xié)調(diào)性至關(guān)重要。通過查看刀具，您可以提高切削效率并增加盈利能力。

日本天田AMADA電阻焊接電源壓力監(jiān)測儀 AMADA/天田 MM-601B 在傳感器上利用測力計的電極加壓力測量器 通過更換傳感器，能進行廣闊的測量范圍（0.20daN到931daN）