Kikusui菊水半導體測試 可變直流穩(wěn)壓電源

Kikusui菊水半導體測試 可變直流穩(wěn)壓電源

1. 線性級低噪聲
   串聯(lián)調節(jié)器方式，紋波 <0.5 mVrms（16 V-35 V 型），滿足 AD/DA、VCO、激光二極管、量子器件等對電源噪聲極度敏感的應用。
2. 50 µs 極速過渡響應
   負載 5 %→100 % 階躍，電壓恢復至額定值 ±0.05 %+10 mV 以內僅需 50 µs（典型），可穩(wěn)定給 FPGA 動態(tài)核電壓、脈沖放大器供電，避免“掉溝"復位。
3. 100 ppm/°C 超低溫度漂移
   電壓溫漂 100 ppm/°C，電流溫漂 300 ppm/°C，參考級穩(wěn)定性；長期老化 <0.05 %/1000 h，適合做基準源或計量對比。
4. 預置式 OVP —— 業(yè)內
   無需斷電即可設定與驗證過壓保護點；動作時間 <50 ms，可在老化過程中隨時檢查，確保負載安全。
5. 多重硬件保護
   過壓、過流、過熱、電涌、逆接、電壓檢測、溫度保險絲、輸入/輸出保險絲，共 7 重保護；關鍵器件降額 ≥50 %，設計壽命 10 年。
6. 串聯(lián)/并聯(lián)/同步運行
• 同型號最多 2 臺并聯(lián)，電流倍增，主從單控
• 最多 7 臺串聯(lián)（以 35 V 機型為例），電壓 ±250 V 對地，可組正負跟蹤、雙極電源
• 遙感補償 0.6 V×2，支持大電流板級測試
7. 全范圍外部模擬控制
   0-10 kΩ 電阻或 0-10 V 電壓即可遠程設定電壓/電流；提供 0-5 V/0-10 V 比例監(jiān)視、PS_OK 故障 TTL、輸出 ON/OFF、感測切換，方便與 PLC、DAQ、ATE 對接。
8. 100 V 輸入通用
   出廠默認 100 V，可選 200 V/230 V（工廠選項）；內置電涌吸收器，可承受 ±20 % 線電壓波動，適應發(fā)電機與長距離配電。
9. 強制風冷 + 0-40 °C 全功率
   智能風扇，噪聲 45 dB(A)；40 °C 不降額，夏天無空調實驗室亦可滿載運行。
10. 經典機械旋鈕 + 雙 4 位表
    電壓、電流獨立旋鈕，鎖定防誤觸；LED 雙 4 位表，精度 ±(0.5 %rdg+2 digits)，無需外接萬用表即可粗讀。

1. 半導體參數測試
   PAN35-10A 給 28 nm FPGA 核 0.9 V/8 A，50 µs 動態(tài)負載下電壓波動 <5 mV，避免時序失效。
2. 車載 ECU 老化
   8×PAN60-10A 并聯(lián) → 0-60 V/80 A，主從單控，40 °C 老化房 24 h，10 年記錄。
3. 航空 100 V 母線測試
   PAN110-5A 序列 1 ms 步進，模擬發(fā)動機啟動 100 V→70 V→100 V，驗證 DC-DC 掉電保持時間。
4. 計量校準
   PAN16-10A 設定 10.000 V，24 h 穩(wěn)定性 <20 ppm，作為 6 位半萬用表 10 V 參考比對源。