日本teclock塑料膠片測厚儀無壓痕厚度計
日本teclock塑料膠片測厚儀無壓痕厚度計

• 適用材料
  金屬、塑料、紙張、膠片、毛發(fā)、珍珠等薄而軟的樣品。
• 低測力設(shè)計
  標(biāo)準(zhǔn)測厚儀測力 ≤ 2.5 N，本機僅約 0.4 N（≈ 40 gf），避免樣品變形
• 測量頭特點
  采用超硬球測量面，耐磨損，無需擔(dān)心壓痕；可輕松測量鋼箔、薄膜、膠粘片等。
• 主要規(guī)格
  型號：SM-112
  分辨率：0.01 mm
  測量范圍：0 – 10 mm
• 尺寸
  最薄、最輕量的指針式表盤設(shè)計，適合現(xiàn)場及實驗室快速抽檢。
• 安裝方便
  可固定于支架或治具，也可單手手持測量。
• 測量方法
  將測頭輕夾在被測物兩側(cè)，直接讀取厚度值。
  按壓升降桿，測頭抬起→放入樣品→松開即自動回零，操作簡單。
• 高精度刻度
  表盤式刻度提供 0.01 mm 與 0.001 mm 兩種分辨率。
• 測量范圍
  最大可測厚度 50 mm（視具體機型）。
• 適用樣品
  頭發(fā)絲、金屬薄板、細管、小成型件等均可快速測量，適合現(xiàn)場短時抽檢。

• 安裝方便
  可固定于支架或治具，也可單手手持測量。
• 測量方法
  將測頭輕夾在被測物兩側(cè)，直接讀取厚度值。
  按壓升降桿，測頭抬起→放入樣品→松開即自動回零，操作簡單。
• 高精度刻度
  表盤式刻度提供 0.01 mm 與 0.001 mm 兩種分辨率。
• 測量范圍
  最大可測厚度 50 mm（視具體機型）。
• 適用樣品
  頭發(fā)絲、金屬薄板、細管、小成型件等均可快速測量，適合現(xiàn)場短時抽檢。