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日本ERD半導(dǎo)體直流測(cè)試儀高功率分立式進(jìn)口 ATS-3120-UPV300 業(yè)界最快的功率半導(dǎo)體直流測(cè)試儀??！ MODEL ATS-3120-UPV300 是業(yè)界最快的分立功率半導(dǎo)體直流測(cè)試儀。 可以測(cè)量最高2KV的電壓和300A的最大電流，非常適合在后處理中測(cè)量汽車封裝TO-3P和TO-220器件。

日本ERD分立半導(dǎo)體高速容量測(cè)量測(cè)試儀進(jìn)口 CMS-200 無汞！超高速容量測(cè)量測(cè)試儀??！ MODEL CMS-200系列是一種高速、高精度測(cè)量分立半導(dǎo)體（FET、二極管等）電容特性的方法。

日本ERD分立式半導(dǎo)體前端DC/C測(cè)量測(cè)試儀 ATS-3810PRB 無汞！Prober連接型超高速中信號(hào)直流測(cè)試儀??！ MODEL ATS-3810PRB是一款專門用于分立半導(dǎo)體前端工藝中探測(cè)機(jī)DC/C測(cè)量的測(cè)試儀。

日本ERD高速處理介質(zhì)信號(hào)直流測(cè)試儀高精度 ATS-3610 無汞！處理器連接4設(shè)備獨(dú)立超高速介質(zhì)信號(hào)直流測(cè)試儀??！ MODEL ATS-3610 可高速、高精度地檢查并確定分立半導(dǎo)體制造過程中的直流特性。

日本進(jìn)口ERD分立式直流測(cè)試儀無汞高性能 ATS-3201 無汞！小信號(hào)直流測(cè)試儀！！ MODEL ATS-3201是最新款分立式直流測(cè)試儀，具有體積小、重量輕、高速、高性能、性價(jià)比高等特點(diǎn)。

日本進(jìn)口Arrows晶圓邊緣視覺檢測(cè)設(shè)備高精度 ARROWS/日本 WEIM-6800A 這是盒式到盒式自動(dòng)晶圓邊緣檢查機(jī)。每張檢查時(shí)間為 10 秒，節(jié)拍時(shí)間為 30 秒，實(shí)現(xiàn)了高吞吐量。機(jī)器人從25片晶圓存儲(chǔ)盒中一張一張取出晶圓，進(jìn)行自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)、檢查，然后將其存儲(chǔ)在晶圓盒中。易于操作。 可以自動(dòng)檢查劃痕、異物、缺口和裂紋等缺陷。 我們?cè)诿繌?30 秒內(nèi)（包括運(yùn)輸時(shí)間）進(jìn)行高速檢查。

Yamada高照度檢查燈鹵素光源設(shè)備山田光學(xué) YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

日本進(jìn)口YAMADA鹵素光源檢查燈高亮度射鏡 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。